1. ホーム>
  2. データセット

データセット

フリーワード検索
doiDOIあり/なしからさがす
DOIあり/なしからさがす
データ区分からさがす
データ区分からさがす
設備分類からさがす
設備分類からさがす
マテリアルインデックスからさがす
マテリアルインデックスからさがす
利用課題年からさがす
利用課題年からさがす
実施機関からさがす
実施機関からさがす
重要技術領域からさがす
重要技術領域からさがす
横断技術領域からさがす
横断技術領域からさがす

新着順

表示件数

表示順

doi2022_昆虫のバイオミメティクス_SEM
装置・プロセス:
CT-010:走査型電子顕微鏡(SEM)
ファイル数:
189
ファイルサイズ:
12.6MB
課題番号:
JPMXP1222CT0203
課題名:
昆虫のバイオミメティクス
実施機関:
公立千歳科学技術大学
登録日:
2025.5.27
ページビュー:
278
ダウンロード数:
2
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

タイキキンオサムシ鞘翅4(x500)
doi2022_象牙質知覚過敏抑制剤による象牙質の再石灰化及び象牙細管封鎖性の評価_FE-SEM
装置・プロセス:
CT-011:電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
ファイル数:
55
ファイルサイズ:
11.27MB
課題番号:
JPMXP1222CT0014
課題名:
象牙質知覚過敏抑制剤による象牙質の再石灰化及び象牙細管封鎖性の評価
実施機関:
公立千歳科学技術大学
登録日:
2025.5.27
ページビュー:
218
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

dem1-1
doi22NI0403_[Fe2+-Fe3+]混合原子価水酸化物の57Feメスバウアー分光測定
装置・プロセス:
NI-004:メスバウアー分光装置群
ファイル数:
31
ファイルサイズ:
2.6MB
課題番号:
JPMXP1222NI0403
課題名:
[Fe2+-Fe3+]混合原子価水酸化物の57Feメスバウアー分光測定
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.26
ページビュー:
196
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

New_65GR.png
doi22NI0402_酸化鉄ナノ粒子の57Feメスバウアー分光測定
装置・プロセス:
NI-004:メスバウアー分光装置群
ファイル数:
23
ファイルサイズ:
1.98MB
課題番号:
JPMXP1222NI0402
課題名:
酸化鉄ナノ粒子の57Feメスバウアー分光測定
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.26
ページビュー:
286
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

Mag80_78K.png
doi新規抗ガン剤の候補物質のESI-TOF-MSによる質量分析(2022)
装置・プロセス:
UE-013:ESI-TOF型質量分析計
ファイル数:
4
ファイルサイズ:
1.6MB
課題番号:
JPMXP1222UE0274
課題名:
新規抗ガン剤の開発研究
実施機関:
電気通信大学
登録日:
2025.5.26
ページビュー:
240
ダウンロード数:
2
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

TH-5-41-1-TH-5-41-1.png
doi生物発光を利用した新規標識材料のESI-TOF-MSによる質量分析(2022)
装置・プロセス:
UE-013:ESI-TOF型質量分析計
ファイル数:
4
ファイルサイズ:
1.63MB
課題番号:
JPMXP1222UE0037
課題名:
生物発光を利用した新規標識材料の開発研究
実施機関:
電気通信大学
登録日:
2025.5.26
ページビュー:
251
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

reserpine-reserpin.png
doi生物発光を利用した新規標識材料のFT-IRスペクトル測定(2022)
装置・プロセス:
UE-012:高速応答FT-IR
ファイル数:
3
ファイルサイズ:
381.04KB
課題番号:
JPMXP1222UE0037
課題名:
生物発光を利用した新規標識材料の開発研究
実施機関:
電気通信大学
登録日:
2025.5.26
ページビュー:
274
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

RS-6-71-1-RS-6-071-1.png
doi生物発光を利用した新規標識材料のMALDI-TOF-MSによる質量分析(2022)
装置・プロセス:
UE-019:MALDI-スパイラルTOF 質量分析装置
ファイル数:
4
ファイルサイズ:
718.2KB
課題番号:
JPMXP1222UE0037
課題名:
生物発光を利用した新規標識材料の開発研究
実施機関:
電気通信大学
登録日:
2025.5.26
ページビュー:
236
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

TI-1-33-1-SP-B01-00-001 (1)_profile.png
doi22NI0401_PbFeO3の高圧下での57Feメスバウアー分光測定
装置・プロセス:
NI-004:メスバウアー分光装置群
ファイル数:
11
ファイルサイズ:
769.04KB
課題番号:
JPMXP1222NI0401
課題名:
PbFeO3の高圧下での57Feメスバウアー分光測定
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
285
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

PbFeO3_3GPa.png
doiAluminum Alloy Surface 20221213_CNF(UTM)
装置・プロセス:
NI-002:特型走査電子顕微鏡装置
ファイル数:
4
ファイルサイズ:
18.58KB
課題番号:
JPMXP1222NI0201
課題名:
Characterization of metal alloy surfaces
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
264
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

SEM-EBSDimage_Edge.png
doi真空紫外光伝導性フッ化物薄膜の薄膜/基板界面
装置・プロセス:
NI-002:特型走査電子顕微鏡装置
ファイル数:
2
ファイルサイズ:
918B
課題番号:
JPMXP1222NI0203
課題名:
フッ化ネオジム薄膜の真空紫外光伝導性への薄膜/基板界面の影響
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
336
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

ARIM 小野先生 22NI0203 CaF200_10000.jpg
doi二座ビスNHC-Rh錯体の合成と単結晶X線構造解析
装置・プロセス:
NI-008:単結晶X線構造解析装置群
ファイル数:
3
ファイルサイズ:
270.19KB
課題番号:
JPMXP1222NI0805
課題名:
二座ビスNHC配位子を用いたRh錯体触媒の合成と性質
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
288
ダウンロード数:
2
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

22NI0805.jpeg
doiクロム-窒素錯体とバナジウム-窒素錯体との比較のための各種錯体
装置・プロセス:
NI-008:単結晶X線構造解析装置群
NI-009:電子スピン共鳴装置
ファイル数:
8
ファイルサイズ:
1.16MB
課題番号:
JPMXP1222NI0801
課題名:
窒素分子の活性化を目指したクロム錯体の合成
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
287
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

meikou20221107_pentyltrenCr
doi遷移金属酸化物のTEM観察_ペロブスカイト型コバルト酸化物の構造相転移_155K
装置・プロセス:
NI-001:原子分解能分析電子顕微鏡群
ファイル数:
14
ファイルサイズ:
82.09MB
課題番号:
JPMXP1222NI0108
課題名:
遷移金属酸化物の構造物性
実施機関:
名古屋工業大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
270
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

SAED_for_A-3.png
doiダイヤモンド中の浅い単一NVセンター配列の共焦点顕微鏡像観察(FV3000)
装置・プロセス:
WS-031:共焦点レーザー走査型顕微鏡
ファイル数:
5
ファイルサイズ:
66.61KB
課題番号:
JPMXP1222WS0104
課題名:
ダイヤモンド中の浅い単一NVセンター配列の共焦点顕微鏡像観察
実施機関:
早稲田大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
303
ダウンロード数:
2
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

Fig.1 単一NVセンター配列の共焦点顕微鏡像
doiダイヤモンド表面へのナノピラー配列の作製(SU8240)
装置・プロセス:
WS-012:電界放出型 走査電子顕微鏡
ファイル数:
3
ファイルサイズ:
143.14KB
課題番号:
JPMXP1222WS0035
課題名:
ダイヤモンド表面へのナノピラー配列の作製
実施機関:
早稲田大学
登録日:
2025.5.23
ページビュー:
272
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

Fig.1 FFT spectrum of radio wave obtained by Qdyne measurements. A bird’s-eye view of the nanopillar is shown in the inset.
doiクリープ変形を行った酸化チタン多結晶体の微細組織観察
装置・プロセス:
NU-102:高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
ファイル数:
48
ファイルサイズ:
441.22MB
課題番号:
JPMXP1222NU0037
課題名:
クリープ変形を行った酸化チタン多結晶体の微細組織観察
実施機関:
名古屋大学
登録日:
2025.5.22
ページビュー:
299
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

1211
doiナノ酸化物デバイスの断面観察
装置・プロセス:
NU-102:高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
ファイル数:
15
ファイルサイズ:
146.61MB
課題番号:
JPMXP1222NU0009
課題名:
ナノ酸化物デバイスの断面観察
実施機関:
名古屋大学
登録日:
2025.5.22
ページビュー:
281
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

Orius SC200D 2250kX0257
doi純鉄ベース材料の停留き裂先端のナノ構造の観察
装置・プロセス:
NU-101:反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡システム
ファイル数:
6
ファイルサイズ:
24.61MB
課題番号:
JPMXP1222NU0069
課題名:
純鉄ベース材料の停留き裂先端のナノ構造の観察
実施機関:
名古屋大学
登録日:
2025.5.22
ページビュー:
230
ダウンロード数:
0
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

001-1-5k
doi透過型電子顕微鏡を用いた固体触媒のナノ組織解析
装置・プロセス:
NU-102:高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
ファイル数:
42
ファイルサイズ:
1.17GB
課題番号:
JPMXP1222NU0077
課題名:
透過型電子顕微鏡を用いた固体触媒のナノ組織解析
実施機関:
名古屋大学
登録日:
2025.5.22
ページビュー:
286
ダウンロード数:
2
License

ライセンスレベルの説明

ライセンスレベル
Level1:Open
Level2:Sample
Level3:License
Level4:Restricted
Level5:Confidential

008_05_HAADF-STEM