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データセット名:太陽電池材料に関する研究(硬X線光電子分光分析装置)_FY2023

課題名:太陽電池材料に関する研究

データセット登録者(所属機関):NIIKURA, Chisato(NIMS)

課題番号:
JPMXP1223NM5176
実施機関:
物質・材料研究機構

要約

フローティングゾーン法により作製した化合物結晶を薄膜成長用基板として用いるための予備実験として、希釈HF溶液処理後の基板表面状態をX線光電子分光(XPS)法により調べた。
希釈HF溶液処理を実施・未実施のBa-Al-Si系化合物基板表面についてXPS測定を行った。さらに、希釈HF溶液処理を実施した基板上にアモルファスシリコン薄膜を形成したサンプルについて、XPS深さ方向分析を行い、基板/薄膜界面のデータを用いて、定量評価を行った。

23NM5176_NM-202.png

キーワード・タグ

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マテリアルインデックス:
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データメトリックス

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47
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データインデックス

https://doi.org/10.71947/arim.jpmxp1223nm5176
登録日:
2026.04.23
エンバーゴ解除日:
2026.03.31
データセットID:
2315762c-d633-4222-ad48-dc8563a14db8
データタイル数:
19
ファイル数:
157
ファイルサイズ:
49.15MB
ライセンス:
ARIMライセンス

成果発表・成果利用