データセット名：電子冷却式温調デバイス開発に向けたシリサイド材料の物性解明と要素技術開発(FE-EPMA[JXA-8500F]_Qualitative)_FY2023
課題名：電子冷却式温調デバイス開発に向けたシリサイド材料の物性解明と要素技術開発
データセット登録者（所属機関）：IMAI, Motoharu（NIMS）
- 課題番号：
- JPMXP1223NM5188
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
要約
SrSi2 は SrSi2 型構造（立方晶）を持ち、狭ギャップ半導体またはワイル半金属候補物質と考えられているが、その詳細な物性はよく理解されていない。この問題を解明するためには高品質な試料が必要であり、高品質な試料を合成するためには正確なSr-Si相図が必要である。従来のSr-Si相図では、SrSi2は室温付近に立方晶相を、高温に正方晶相を持つとされていた。今回の研究では55～100 at. %Siの範囲において、Sr-Si相図を実験的に再検討した。その結果、SrSi2は立方晶相のみが存在し、正方晶相はSrSi2より少しSiが欠損したSrSi2-xであることが明らかになった。
本課題では、仕込み組成60.0、78.0、83.5、90.0 at.%SiのSr-Si混合物をアーク溶融法で溶解し試料を準備した。この溶解試料を切断、樹脂への埋め込み、研磨を行った後、電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置[JXA-8500F]（EPMA）を用い、Qualitativeモードでの測定（加速電圧：15 kV、プローブ電流：50 nA）を行った。用いた標準物質はSi、SrAl4である。
キーワード・タグ
- 重要技術領域（主）：
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データメトリックス
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データインデックス
- 登録日：
- 2026.04.23
- エンバーゴ解除日：
- 2026.03.31
- データセットID：
- c814f8bd-d7b4-4891-94da-08f282669625
- データタイル数：
- 1
- ファイル数：
- 5
- ファイルサイズ：
- 76.58KB
- ライセンス：
- ARIMライセンス
装置・プロセス
成果発表・成果利用
- 論文等1：
-
Motoharu Imai, Sr–Si diagram at Si contents of 55–100 at% and crystal structure of SrSi2-, Journal of Alloys and Compounds, 968, 172137(2023).
DOI: https://doi.org/doi.org/10.1016/j.jallcom.2023.172137