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データセット名:ナノ相分離材料の組織分析(硬X線光電子分光分析装置_BIC-Fitting)

課題名:ナノ相分離材料の組織分析

データセット登録者(所属機関):ABE, Hideki(NIMS)

課題番号:
JPMXP1223NM5363
実施機関:
物質・材料研究機構

要約

Pt2Ce合金薄膜をシリコン基板状に蒸着し、これを酸素含有雰囲気中で加熱処理することによって、二次元面に展開した極薄のナノコンポジット:Pt#CeO2膜を得る。このナノコンポジット膜は、ひとつながりにつながった金属Pt相、イオン導電性酸化物CeO2、二つの異なった物質相が互いに絡み合う特殊なトポロジーのために、触媒やセンサー利用に優れた機能を発揮する。
真空蒸着によりシリコン基板上に2~50ナノメートルの合金薄膜を蒸着。酸素・一酸化炭素混合雰囲気下での加熱により、Pt#CeO2膜を得た。
ここでは硬X線光電子分光分析装置(測定モード:BIC-Fitting)を用いた実験結果を掲載する。

23NM5363_NM-202_BIC-Fitting.png

キーワード・タグ

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データメトリックス

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データインデックス

https://doi.org/10.71947/arim.jpmxp1223nm5363
登録日:
2026.04.23
エンバーゴ解除日:
2026.03.31
データセットID:
77b7e62e-32e4-486a-b613-c84b4446ab02
データタイル数:
1
ファイル数:
50
ファイルサイズ:
18.62MB
ライセンス:
ARIMライセンス

成果発表・成果利用