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マスクレス露光装置  (Maskless exposure system)

設備ID
IT-003
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
マスクレス露光装置
メーカー名
大日本科研 (Japan Science Engineering Co., Ltd.)
型番
MX-1205
仕様・特徴
DMDによるパターン生成露光、100mm角露光サイズ、最小描画画素1μm、アライメント精度±0.15μm データ取り込み機能
設備状況
稼働中

マスクレス露光装置  (Maskless exposure system)

設備ID
IT-004
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
マスクレス露光装置
メーカー名
大日本科研 (Japan Science Engineering Co., Ltd.)
型番
MX-1204
仕様・特徴
DMDによるパターン生成露光、150mm角露光サイズ、最小描画画素2μm、アライメント精度±0.15μm
設備状況
稼働中

コンタクト光学露光装置 (Contact optical exposure)

設備ID
IT-005
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
コンタクト光学露光装置
メーカー名
ズース ( Süss)
型番
MA-8
仕様・特徴
・アシスト機能装備、TSA/BSA装備
・表面アライメント制度 TSA:±0.25μm以下 BSA:±1.00μm以下
・露光解像度 0.5μm
・対応基板 小片~直径2inch ウェハ
設備状況
稼働中

走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)

設備ID
IT-006
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
走査型電子顕微鏡
メーカー名
日立 (Hitachi)
型番
S5200
仕様・特徴
高解像度用インレンズ式高解像度用インレンズ式 加速電圧1kV~30kV 分解能0.5nm(30kV)~1.7nm(1kV) 倍率X100~X2000K STEMモード可
設備状況
稼働中

走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)

設備ID
IT-007
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
走査型電子顕微鏡
メーカー名
日立 (Hitachi)
型番
S4500
仕様・特徴
電界放出型 ・冷陰極電界放出型電子銃 ・分解能:1.5 nm (加速電圧 15 kV WD=4mm) 4.0 nm (加速電圧1 kV WD=3mm) ・試料サイス:最大50 mm (直径)
設備状況
稼働中

3連Eガン蒸着装置 ( Elecrton beam evaporator with 3 pocket)

設備ID
IT-008
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
3連Eガン蒸着装置
メーカー名
アルバック ( Ulvac)
型番
EX-300
仕様・特徴
300mm対応 高速排気
設備状況
稼働中

原子層堆積装置 (Atomic layer deposition)

設備ID
IT-011
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
原子層堆積装置
メーカー名
Ultratech/CamnbridgeNanotech (Ultratech/CamnbridgeNanotech)
型番
FijiF20
仕様・特徴
ロードロック機構付
プラズマ式/サーマル式の両方のモードでの原子層堆積が可能。化合物半導体等のMIS構造での低界面準位密度などに実績あり。(成膜温度で揮発し、装置を汚染する可能性のある材料は禁止) 酸素源:オゾンおよび水の両方の利用が可能
設備状況
稼働中

リアクテブイオンエッチング装置 (Reactive ion etcher)

設備ID
IT-012
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
リアクテブイオンエッチング装置
メーカー名
サムコ (Samco)
型番
RIE_10NR
仕様・特徴
・各種シリコン薄膜(Si, SiO2, poly-Si, Si3N4等)の高精度エッチング装置
・グラフィックタッチパネルによる全自動運転 ・最大φ8インチウエハー加工可能
・高速排気エッチング ガスの種類:CH4, H2, O2, Ar,CF4, O2
設備状況
稼働中

ICPリアクテブイオンエッチング装置 (ICP Reactive ion etcher)

設備ID
IT-013
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
ICPリアクテブイオンエッチング装置
メーカー名
サムコ (Samco)
型番
ICP-101RF
仕様・特徴
・使用ガス:CF4, SF6, CH4, H2, O2
・4-inchウエハまで対応 シリコン加工関連のみに限定対応
設備状況
稼働中

ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置 (ICP Reactive ion etcher for diamond)

設備ID
IT-014
設置機関
東京科学大学(旧:東京工業大学)
設備画像
ダイヤモンド用ICPリアクテブイオンエッチング装置
メーカー名
サムコ (Samco)
型番
ICP-400iP
仕様・特徴
ダイヤモンドやシリコン、SiO2などを高密度プラズマでエッチングする装置です。また、屈折率差がある材料であれば、終点検知も可能です。最大4インチ, 2インチ以下なら不定形基板の取り扱いができます。ガス種:CHF3, O2, CF4
設備状況
稼働中
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