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長時間撮影蛍光イメージングシステム (Time-Lapse Fluorescence Microscope)
- 設備ID
- KT-309
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス(株) (Olympus Corporation)
- 型番
- IX81-ZDC2
- 仕様・特徴
- タイムラプス撮影の各撮像操作を行う直前にピントを自動補正。
コンティニュアスフォーカスによるリアルタイムなフォーカス追従が可能。
5次元(XYZTλ)の画像取得が可能。
画像解析ソフト(MetaMorph)による画像解析が可能。
・5次元(XYZTλ)の画像取得が可能
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置 (Intelligent X-Ray Diffractometer)
- 設備ID
- KT-310
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料水平保持方式
薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができ、最大サイズ8インチΦの試料の測定、および4インチΦの場合はエリアマップ測定が可能
・多彩な薄膜評価
組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など
・粉末解析に
定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など
・試料サイズ 最大φ8インチ
・組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価等の測定可能
- 設備状況
- 稼働中
分光エリプソメーター (Spectral Ellipsometer)
- 設備ID
- KT-311
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- FE-5000
- 仕様・特徴
- ・分光エリプソスペクトルの多波長同時測定
・基板（バルク）光学定数（n、k）が直接解析可能
・角度可変測定により、薄膜のより詳細な解析に対応
・測定膜厚範囲 1nm～1μm
・測定波長範囲 300nm～800nm
・サンプルサイズ 200mmx 200mm以上
- 設備状況
- 稼働中
光ピンセットシステム (Optical Tweezers & 3D Trapping System)
- 設備ID
- KT-312
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- JPKインスツルメンツ社 (JPK Instruments AG)
- 型番
- NanoTracker
- 仕様・特徴
- ・2本のレーザービームによる三次元光トラップが可能
・Force spectroscopyと粒子追跡が可能
・粒子位置を三次元で検出
・光学顕微鏡イメージ上でクリックして粒子位置の操作が可能 ・Multiplexing 機能により、多数の粒子を捕捉することが可能
・2本のレーザービームによる三次元光トラップが可能
・最小Force検出 0.3 pN以下
・NT-O-001ほか
- 設備状況
- 稼働中
ゼータ電位・粒径測定システム (Zeta Potential & Particle Size Analyzer)
- 設備ID
- KT-313
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- ELSZ-2Plus
- 仕様・特徴
- 希薄から濃厚系試料のゼータ電位・粒子径測定が可能
・測定範囲 ゼータ電位：-200～200mV
・電気移動度：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s
・粒子径：0.6nm～7μm
- 設備状況
- 稼働中
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Light Scattering Spectrophotometer)
- 設備ID
- KT-314
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- DLS-8000DH
- 仕様・特徴
- ・動的光散乱法
粒径分布、拡散係数分布を測定
・静的光散乱法
第二ビリアル係数・重量平均分子量・慣性半径の見積もり、重量平均分子量
・動的光散乱法：粒径分布、拡散係数分布測定
・静的光散乱法：第二ビリアル係数・重量平均分子量測定・慣性半径の見積もり
- 設備状況
- 稼働中
マイクロシステムアナライザ (Micro System Analyzer)
- 設備ID
- KT-316
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- ポリテックジャパン(株) (Polytec)
- 型番
- MSA-500-TPM2-20-D
- 仕様・特徴
- MEMSデバイスの動的特性(面外,面内)
および表面形状を3次元で測定
・MEMSデバイスの動的特性(面外,面内)および表面形状を3次元で測定
- 設備状況
- 稼働中
プローバ (Prober)
- 設備ID
- KT-317
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)日本マイクロニクス (MICRONICS JAPAN CO., LTD.)
- 型番
- Model 708fT
- 仕様・特徴
- 微小電流(ｆAレベル)領域の解析・評価を行うためのマニュアルプローバ
・マニュアルタイプ
・ウエハサイズ ～Φ200mm
- 設備状況
- 稼働中
真空プローバ (Vacuum Probe System)
- 設備ID
- KT-318
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- カスケード・マイクロテック(株) (Cascade Microtech, Inc.)
- 型番
- PLV50
- 仕様・特徴
- Φ150mm基板まで対応できるマニュアルプローブシステム
(-40℃～+200℃過調制御可能)
・チャックサイズ：Φ150mm，Φ100mm，小片基板 ほか
・チャック温度：-40～+200℃
・真空チャンバー 制御圧力：10～10-2Pa
- 設備状況
- 稼働中
パワーデバイスアナライザ (Power Device Analyzer & Curve Tracer)
- 設備ID
- KT-319
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
- 型番
- B1505A
- 仕様・特徴
- 基本的にC17のプローバと組み合わせて使用する。(別のプローバ等を使用される場合は、要相談)
・IV測定 電流: 10 fA～1 A 電圧: 2μV～200 V
- 設備状況
- 稼働中