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インピーダンスアナライザ (Precision Impedance Analyzer)
- 設備ID
- KT-320
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
- 型番
- 4294A
- 仕様・特徴
- アジレント・テクノロジー(株)社製 4294A
基本インピーダンス確度 ±0.08%
周波数 40Hz～110MHz
真空プローバ；カスケード・マイクロテック社製 PLV50
チャックサイズ：Φ150mm，Φ100mm，小片基板 ほか
チャック温度：-40～+200℃
真空チャンバー 制御圧力：10～10-2Pa
- 設備状況
- 稼働中
光ヘテロダイン微小振動測定装置 (Optical Heterodyne Laser Doppler Vibrometer )
- 設備ID
- KT-321
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- ネオアーク(株) (NEOARK Corporation)
- 型番
- MLD-230D-200K
- 仕様・特徴
- ネオアーク(株)社製 MLD-230D-200K
測定方向 縦振動、横振動の方向を切り替えて測定
測定周波数 1kHz～200MHｚ
- 設備状況
- 稼働中
超微小材料機械変形評価装置 (Nano-Indenter)
- 設備ID
- KT-322
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)エリオニクス (ELIONIX INC.)
- 型番
- ENT-2100
- 仕様・特徴
- 用途：圧子を微小荷重で試料に押込み、押込み深さを連続的に測定することで、試料表面の力学的特性を評価する装置。
・最大試料サイズ Φ50x t3.5mm
・荷重範囲 1μN～100ｍN
- 設備状況
- 稼働中
セルテストシステム (Solar Cell Tester)
- 設備ID
- KT-324
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- Solartron社 (Solartron Analytical)
- 型番
- 1470E
- 仕様・特徴
- 英国ソーラトロン社製セルテストは、 インピーダンスアナライザ（1260型）と8チャンネルポテンショ/ガルバノスタット（1470Ｅ型）から構成されます。
様々な電気化学測定が最大8チャンネルまで独立測定が可能です。
各種電池、キャパシタなどエネルギーデバイスの伝導度測定、酸化還元電位測定、 インピーダンス測定による劣化解析などが可能です。
・インピーダンスアナライザと8チャンネルポテンショ/ガルバノスタットの構成
・8チャネル独立測定可能
- 設備状況
- 稼働中
卓上顕微鏡(SEM) (Tabletop SEM)
- 設備ID
- KT-325
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation)
- 型番
- TM3000
- 仕様・特徴
- 簡単な操作で高倍率の表面観察ができます。低真空観察法により、帯電しやすい試料でも金属コーティングをせず、そのまま観察ができます。
・倍率 15～30,000倍
・試料最大寸法 Φ70mm
- 設備状況
- 稼働中
高周波伝送特性測定装置 (Manual Prober)
- 設備ID
- KT-326
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)アポロウエーブ (APOLLOWAVE Corporation)
- 型番
- α150
- 仕様・特徴
- (株)アポロウエーブ社製 α150
チャックサイズ6インチ(室温～300℃)
プローブ位置合わせのストローク量: X,Y,Z各±5 mm
RFプローブキット
ネットワークアナライザ
半導体パラメータアナライザ
- 設備状況
- 稼働中
RFプローブキット (RF Microwave Probe Kit)
- 設備ID
- KT-327
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- カスケード・マイクロテック(株) (Cascade Microtech, Inc.)
- 型番
- ZPROBE
- 仕様・特徴
- 高周波対応のプローブ針。
・特性インピーダンス：50Ω
・周波数：DC～40GHz
・RF出力：MAX 5W＠40GHz
・DC電流：MAX 1.5A
・DC電圧：MAX 100V
・ピッチ：250μm
- 設備状況
- 稼働中
ネットワークアナライザ (Vector Network Analyzer)
- 設備ID
- KT-328
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- ローデ・シュワルツ・ジャパン(株) (ROHDE & SCHWARZ)
- 型番
- ZVB14
- 仕様・特徴
- 測定可能周波数：10kHz～14GHz
- 設備状況
- 稼働中
半導体パラメータアナライザ (Semiconductor Parameter Analyzer)
- 設備ID
- KT-329
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- ケースレーインスツルメンツ(株) (Keithley Instruments, Inc.)
- 型番
- 4200-SCS
- 仕様・特徴
- 最大200V印加、電流上限：2W/印加
電流最小分解能：0.1fA
- 設備状況
- 稼働中
強誘電体特性評価システム (Piezoelectric Properties Evaluation System)
- 設備ID
- KT-330
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱東陽テクニカ (TOYO Corporation)
- 型番
- FCE-3
- 仕様・特徴
- ㈱東陽テクニカ社製FCE-3
分極 ヒステリシス測定、誘電率測定
測定温度範囲20℃～500℃
- 設備状況
- 稼働中