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ゼータ電位／粒径測定システム (Zeta-potential and particle analyzer system)
- 設備ID
- KU-513
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 仕様・特徴
- 【ゼータ電位／粒径測定システム：ELSZ-2】
・粒子径測定範囲（0.6-7000nm）
・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV)
・測定濃度範囲：粒径0.00001-40%
・ゼータ電位濃度範囲：0.001-40%
・(希薄、濃厚試料対応)
・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置群 (X-ray diffraction system)
- 設備ID
- KU-514
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLabMicroMax-007HFNANO-Viewer KMYC
- 仕様・特徴
- 【全自動水平型多目的Ｘ線回折装置：SmartLab】
・シンチレーションカウンターおよびD/TEX検出器搭載
・CALSA 超高分解スパイラルアナライザ
・粉末サンプルの定性分析・結晶化度評価・結晶子サイズ可能
【単結晶X線解析装置：MicroMax-007HF】
・高輝度迅速型のＸ線単結晶構造解析装置。
・微小焦点化・高輝度化されており迅速な測定、微小試料の測定が可能。
・X線集光ミラーにVariMax、X線検出部にHypix-6000搭載
・低温吹付装置（窒素）で温度制御可能。
【小角X線散乱装置NANO-Viewer KMYC】
・半導体直接検出型2次元検出器PILATUS100K/R搭載
・バルクサンプルの数nm~数百nm程度の構造評価が可能
・薄膜サンプルの配向評価が可能
・3 msecでの高速読み取りが可能
- 設備状況
- 稼働中
分子構造解析システム (Molecular structure analysis system)
- 設備ID
- KU-516
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- ()
- 型番
- 自主開発
- 仕様・特徴
- 生体分子や高分子材料のシミュレーションおよび可視化のために必要なシステムを、並列コンピューティングおよびGPUコンピューティングにより稼働している。非経験的分子軌道法、密度汎関数理論計算プログラム、分子動力学といった様々な手法によるモデリング、計算、解析が可能である。
- 設備状況
- 稼働中
ナノ炭素燃料電池評価装置群 (Fuel cell evaluation systems)
- 設備ID
- KU-517
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東陽テクニカマイクロトラック・ベル (TOYO MICROTRAC MRB)
- 型番
- AutoPEM-ER02AutoPEM-ER01BELSORP-miniⅡBELSORP-maxBELCAT-B
- 仕様・特徴
- 【自動CV型燃料電池評価システム、燃料電池評価システム】
・燃料供給装置H2ガス1000 Ncc/min ～、Air 2000 Ncc/min～)
・DC分極電圧5 V～、電流±2 A～、自動電圧スイープ6 mV～60 V/min
・測定分解能：電流～1pA,電圧～1μV
【付帯装置：高精度ホットプレス SA-501テスター産業】
【触媒活性表面測定システム：BELSORP-miniⅡ、触媒分析装置 BELCAT-B】
・定容量式窒素ガス吸着法
・ 最大3検体同時測定(1つは参照)
・(比表面積：0.01 m2/g～、細孔径分布0.7～200 nm)
・解析プログラム：吸着等温線、BET比表面積自動解析、tプロット法等
・圧力計5台、0～133kPa、±0.25%
・圧力分解能 4Pa
・流通法 (室温～1200 ℃) TCD検出器
【ガス吸着装置BELSORP-max-12-SP】
・定容量式ガス吸着法
・最大3検体同時測定
・比表面積：0.01 m2/g ～ (N2)
・細孔径分布：0.35 - 500 nm
・N2、CO2、その他の非腐食性ガス
・解析プログラム：吸着等温線、BET比表面積自動解析、tプロット法等
- 設備状況
- 稼働中
CCDマルチICP発光分光分析装置 (ICP-OES Analyzer SPECTRO ARCOS)
- 設備ID
- KU-518
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- SPECTRO (SPECTRO)
- 型番
- ARCOS EOP 130
- 仕様・特徴
- タイプ 多元素同時（マルチ）：ポリクロメーター
多元素同時（マルチ）：ポリクロメーター
マウント方式 トリプル・パッシェンルンゲ
波長範囲 130～770nm
UVシステム
（200nm以下の測定システム） UV－PLUS（連続ガスパージ不要）
クリーンカートリッジ交換：2年に1回
焦点距離 750mm
回折格子 3,600本/mm 2式 1,800本/mm 1式
次光 1次光（全波長範囲）
検出器 リニアCCDアレイ
- 設備状況
- 稼働中
マイクロカロリメーター (Micro calorimeter)
- 設備ID
- KU-519
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- MicroCal (MicroCal)
- 型番
- PEAQ-ITC
- 仕様・特徴
- 【PEAQ-ITC】
・溶液中の分子間相互作用をダイレクトに測定
・サンプルのラベル化、および固定化が不要
・分子量の制限なし
・解離定数（KD）と熱力学的パラメータ
・サンプル充填、セル洗浄など全機能を完全自動制御（PEAQ-ITC Automated）
（ΔG,ΔH,ΔS）の取得
・必要サンプル容量280 μL
・セル容積200 μL
・滴定シリンジ容量40 μL
・測定温度範囲 2～80℃
- 設備状況
- 稼働中
極微小単結晶電子回折システム (Electron diffraction system for crystal structure analysis)
- 設備ID
- KU-520
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク／日本電子 (Rigaku / JEOL)
- 型番
- XtaLAB Synergy-ED
- 仕様・特徴
- 電子線源：熱電子放出型電子銃（Lab6）
最高加速電圧：200kV
電子線照射量：0.01e-/Å2/sec以下での測定が可能
解析可能な結晶軸の長さ：60Å以上の結晶軸を持つ試料の構造解析が可能
試料室：試料移動付き4軸（X,Y,Z,X傾斜）ゴニオメーター、ユーセントリックハイトが調整された試料ステージにおいて、データ測定の際に測定対象の試料を常に電子線照射領域内に保持可能
傾斜角：X軸傾斜±50°
検出器：直接検出型フォトンカウンティング方式
検出面積：77.5 × 36.5 mm2
最大フレームレート：131fps（16bit読出時）
ピクセルサイズ：100 × 100 μm2
最大計数率（ダイナミックレンジ）> 1 × 106 cps/pixel
試料室の最高到達真空度：2.0×10-5Pa
- 設備状況
- 稼働中
高濃度水蒸気雰囲気示差熱天秤 (Humidity Controlled Thermogravimetry Differential Thermal Analysis)
- 設備ID
- KU-521
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- TG-DTA8122/HUM-DP+ASC HKR
- 仕様・特徴
- 示差熱天秤と水蒸気発生装置を組み合わせて水蒸気雰囲気でTG-DTA測定を行う装置
測定方式: 水平差動型トリプルコイル方式
測定温度範囲: 室温～1000℃
昇温速度: 1～100℃/min
試料量: 最大 1g
TGレンジ: 500mg
TG分解能: 0.1μg
DTAレンジ: 2000μV
測定雰囲気: 大気・窒素ガスフロー・CO2ガスフロー・CO2濃度および相対湿度制御可能
- 設備状況
- 稼働中