電子状態測定システム
最終更新日：2024年4月4日
| 設備ID | KU-501 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > X線光電子分光 （XPS（硬X線を含む）） |
| 設備名称 | 電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学ウエスト3号館116 |
| メーカー名 | 島津製作所 ( Shimazu ) |
| 型番 | AXIS-ULTRA |
| キーワード | XPS、ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析、X線光電子分光（XPS） |
| 仕様・特徴 | ・測定範囲10～1500 eVを25meV以下のステップ、 ・分析面積15μmφ～ ・Mg/AlデュアルX線源、出力～450W ・イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa ・Arエッチング可能、 ・予備室内での加熱処理対応、 ・大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能 ・元素マッピング可能 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=KU-501 |
