本拠点は微細構造解析プラットフォームとして多くのTEM/STEM，SEM，XRD，FIB，XPS，SIMSを設置しております．
無機材料原子構造計測部門ではSTEMによる軽元素観察に成功し，微量元素計測部門ではNanoSIMSによる高解像度の元素マッピングが可能となっております．有機材料・バイオ材料構造計測部門では診断・治療用ナノデバイスとして期待される中空カプセルを非染色で観察に成功し，電子状態計測部門ではナノ構造界面における電子状態の高精度計測法の開発に着手しています．さらに低炭素材料・デバイス物性構造計測部門では，自己組織化ナノ構造形成プロセスの評価を行い，基礎的な知見を得ることができました．その他にも，様々な注目される研究成果をあげております．
これらの部門を担当する研究者や設備担当者が利用者の皆様の分析を支援いたします．また，コーディネート部門が皆様の窓口として，いつでもご相談に応じることができます．
本拠点では，学内外の研究者や企業の皆様が自ら設備を利用して分析データを得ることができる他，設備担当者からの技術補助や依頼による分析も行うこともできます．さらに，講習会や個別指導により装置の利用方法を習得できますので，是非，ご参加ください．
また，共用設備の性能や分析事例について，ご理解いただくため，公開セミナーを開催し，研究交流を推進いたします．是非，公開セミナーにご参加いただき，東京大学の共用設備をご利用下さい．
