参画機関から

【日時】2018年12月7日（金）10:00～（受付 9:30～）
【場所】東京大学　浅野キャンパス　工学部　武田先端知ビル5階　武田ホール
　〒113-8656　東京都文京区弥生2-11-16
　TEL：03-3812-8524（東京大学・日本電子産学連携室）

【主催】東京大学・微細構造解析プラットフォーム／東京大学・日本電子産学連携室

【参加費】無料

【参加申込方法】Web申込フォーム，またはFAX申込用紙にて申込

【参加申込締切】2018年12月4日（火）（*定員になり次第締切）


【プログラム】
9:30～10:00 　受付
10:00～10:10　開会挨拶
10:10～10:30　FIBによる試料作製の自動化
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　日本電子株式会社　三平 智宏
10:30～11:00　TEM-EDSの定量分析と実際
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　日本電子株式会社　森田 正樹
11:00～11:20　ゴム試料のTEM内引張りその場観察　～メルビル社製引張りホルダーを使って～
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　日本電子株式会社　青山 佳敬
11:20～13:10　昼食（ポスター展示セッション）
13:10～13:30　最新のクライオ電子顕微鏡で迫るタンパク質の構造
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　日本電子株式会社　福村 拓真
13:30～13:50　高速ピクセル型STEM検出器4DCanvas™による応用研究紹介
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　日本電子株式会社　佐川　隆亮
13:50～14:00　休憩
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　名古屋大学　武藤 俊介 様
14:50～15:20　休憩（ポスター展示セッション）
15:20～16:10　高速原子分解能透過電子顕微鏡で拓く新しい分子科学の世界
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　東京大学　中村 栄一 様
16:20～17:00　ソフトマテリアル電顕評価のための前処理・観察・解析の検討
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　帝人株式会社　広瀬 治子 様
17:00～17:10　閉会挨拶
17:10～　　　 懇親会

※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます.予めご了承頂きますようお願い申し上げます.

【お問い合せ】日本電子株式会社　ユーザーズミーティング事務局
担当：内野（うちの）・廣川（ひろかわ）
E-Mail：jeolum(at)jeol.co.jp