第11回 TEMユーザーズミーティング(12月7日)開催のお知らせ
【日時】2018年12月7日(金)10:00~(受付 9:30~)
【場所】東京大学 浅野キャンパス 工学部 武田先端知ビル5階 武田ホール
〒113-8656 東京都文京区弥生2-11-16
TEL:03-3812-8524(東京大学・日本電子産学連携室)
【主催】東京大学・微細構造解析プラットフォーム/東京大学・日本電子産学連携室
【参加費】無料
【参加申込方法】Web申込フォーム,またはFAX申込用紙にて申込
【参加申込締切】2018年12月4日(火)(*定員になり次第締切)
【プログラム】9:30~10:00 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:30 FIBによる試料作製の自動化
日本電子株式会社 三平 智宏
10:30~11:00 TEM-EDSの定量分析と実際
日本電子株式会社 森田 正樹
11:00~11:20 ゴム試料のTEM内引張りその場観察 ~メルビル社製引張りホルダーを使って~
日本電子株式会社 青山 佳敬
11:20~13:10 昼食(ポスター展示セッション)
13:10~13:30 最新のクライオ電子顕微鏡で迫るタンパク質の構造
日本電子株式会社 福村 拓真
13:30~13:50 高速ピクセル型STEM検出器4DCanvas™による応用研究紹介
日本電子株式会社 佐川 隆亮
13:50~14:00 休憩
14:00~14:50 STEM-EELSによる化学マッピングの基礎と応用
~特に実用材異相界面および不純物占有サイト同定への応用~
名古屋大学 武藤 俊介 様
14:50~15:20 休憩(ポスター展示セッション)
15:20~16:10 高速原子分解能透過電子顕微鏡で拓く新しい分子科学の世界
東京大学 中村 栄一 様
16:10~16:20 休憩
16:20~17:00 ソフトマテリアル電顕評価のための前処理・観察・解析の検討
帝人株式会社 広瀬 治子 様
17:00~17:10 閉会挨拶
17:10~ 懇親会
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます.予めご了承頂きますようお願い申し上げます.
【お問い合せ】日本電子株式会社 ユーザーズミーティング事務局
担当:内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
E-Mail:jeolum(at)jeol.co.jp
TEL:03-6262-3560・FAX:03-6262-3577
詳細は,下記URLをご参照ください.