NIMS微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー「電子線損傷を受けやすい材料のTEM/STEM用試料作製法と観察方法」（12月13日）開催のお知らせ
物質・材料研究機構（NIMS）微細構造解析プラットフォームでは，下記内容で地域セミナーを開催いたします．
みなさまのご参加お待ちしております．
【日時】2019年12月13日（金）14:00～17:00
【場所】物質・材料研究機構 並木地区 WPI-MANA棟1階 オーディトリウム
【主催】物質・材料研究機構（NIMS）微細構造解析プラットフォーム
【プログラム】（敬称略）
14:00-14:10 田中 美代子（NIMSプラットフォーム長）
NIMS微細構造解析プラットフォームの紹介
14:10-14:40 広瀬 治子（帝人）
ソフトマテリアルの電顕試料作製方法と観察方法
14:40-15:10 吉田 要（JFCC）
ソフトマテリアルの低損傷高分解能観察
15:10-15:40 宮田 智衆（東北大）
イオン液体および高分子鎖の原子分解能観察
15:40-16:00 （休憩）
16:00-16:30 Alexander Bright（日本FEI）
Cryo FIB，iDPC-STEMによるビームダメージを受けやすい材料のサンプル作製法とS/TEM観察法
16:30-17:00 伊井 由花（日立ハイテク）
FIB関連技術を用いた低損傷試料作製法とSTEM/TEM観察
17:15-18:30 意見交換会（会場：並木地区食堂）
【参加費】無料（ただし，意見交換会は会費1,000円）
【参加申込方法】当日参加も可能ですが，準備の都合上，下記Webサイトからの事前登録にご協力下さい．
https://form.run/@RS191213
【お問い合せ】物質・材料研究機構 NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
E-mail：nmcp(at)nims.go.jp
政府・公的機関から
参画機関から
