NIMS微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー「電子線損傷を受けやすい材料のTEM/STEM用試料作製法と観察方法」(12月13日)開催のお知らせ
物質・材料研究機構(NIMS)微細構造解析プラットフォームでは,下記内容で地域セミナーを開催いたします.
みなさまのご参加お待ちしております.
【日時】2019年12月13日(金)14:00~17:00
【場所】物質・材料研究機構 並木地区 WPI-MANA棟1階 オーディトリウム
【主催】物質・材料研究機構(NIMS)微細構造解析プラットフォーム
【プログラム】(敬称略)
14:00-14:10 田中 美代子(NIMSプラットフォーム長)
NIMS微細構造解析プラットフォームの紹介
14:10-14:40 広瀬 治子(帝人)
ソフトマテリアルの電顕試料作製方法と観察方法
14:40-15:10 吉田 要(JFCC)
ソフトマテリアルの低損傷高分解能観察
15:10-15:40 宮田 智衆(東北大)
イオン液体および高分子鎖の原子分解能観察
15:40-16:00 (休憩)
16:00-16:30 Alexander Bright(日本FEI)
Cryo FIB,iDPC-STEMによるビームダメージを受けやすい材料のサンプル作製法とS/TEM観察法
16:30-17:00 伊井 由花(日立ハイテク)
FIB関連技術を用いた低損傷試料作製法とSTEM/TEM観察
17:15-18:30 意見交換会(会場:並木地区食堂)
【参加費】無料(ただし,意見交換会は会費1,000円)
【参加申込方法】当日参加も可能ですが,準備の都合上,下記Webサイトからの事前登録にご協力下さい.
https://form.run/@RS191213
【お問い合せ】物質・材料研究機構 NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
E-mail:nmcp(at)nims.go.jp