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参画機関から

微細構造解析 物質・材料研究機構 物質・材料研究機構

NIMS微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー「電子線損傷を受けやすい材料のTEM/STEM用試料作製法と観察方法」(12月13日)開催のお知らせ

 物質・材料研究機構(NIMS)微細構造解析プラットフォームでは,下記内容で地域セミナーを開催いたします.
みなさまのご参加お待ちしております.

【日時】2019年12月13日(金)14:00~17:00
【場所】物質・材料研究機構 並木地区 WPI-MANA棟1階 オーディトリウム

【主催】物質・材料研究機構(NIMS)微細構造解析プラットフォーム

【プログラム】
(敬称略)
14:00-14:10    田中 美代子(NIMSプラットフォーム長)
        NIMS微細構造解析プラットフォームの紹介
14:10-14:40    広瀬 治子(帝人)
        ソフトマテリアルの電顕試料作製方法と観察方法
14:40-15:10    吉田 要(JFCC)
        ソフトマテリアルの低損傷高分解能観察
15:10-15:40    宮田 智衆(東北大)
        イオン液体および高分子鎖の原子分解能観察
15:40-16:00    (休憩)
16:00-16:30    Alexander Bright(日本FEI)
        Cryo FIB,iDPC-STEMによるビームダメージを受けやすい材料のサンプル作製法とS/TEM観察法
16:30-17:00    伊井 由花(日立ハイテク)
        FIB関連技術を用いた低損傷試料作製法とSTEM/TEM観察

17:15-18:30    意見交換会(会場:並木地区食堂)


【参加費】無料(ただし,意見交換会は会費1,000円)

【参加申込方法】当日参加も可能ですが,準備の都合上,下記Webサイトからの事前登録にご協力下さい.
https://form.run/@RS191213

【お問い合せ】
物質・材料研究機構 NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
E-mail:nmcp(at)nims.go.jp