参画機関から

微細構造解析 物質・材料研究機構 物質・材料研究機構

【開催延期のお知らせ】NIMS微細構造解析プラットフォーム 地域セミナー「XeプラズマFIBを用いた試料作製とFIB-SEMを軸とした他の分析法との融合」(4月6日)

 物質・材料研究機構(NIMS)微細構造解析プラットフォームは,NIMS 技術開発・共用部門 電子顕微鏡ステーションと共同で地域セミナーを開催いたします.みなさまのご参加をお待ちしております.

【日時】*開催延期*2020年4月6日(月)13:30~14:40(受付13:00~)
【場所】国立研究開発法人 物質・材料研究機構 千現地区 第2会議室

【主催/共催】NIMS微細構造解析プラットフォーム/電子顕微鏡ステーション


【講演内容】
 XeプラズマFIB-SEMは,最大1mmまでの高速加工だけでなく,その不活性な性質によりGaフリーの試料作製が可能で,年々ニーズが高まっています.またToF-SIMSやラマン顕微鏡のFIB-SEMへの搭載による応用も展開されています.
 本講演ではこれらの詳細と応用例について紹介します.

 講演者:株式会社東陽テクニカ ライフサイエンス&マテリアルズ 鈴木 直久氏


【入場】無料

【参加申込】当日参加も可能ですが,準備の都合上,下記Webサイトの申込フォームから,事前登録にご協力下さい.
https://www.nims.go.jp/nmcp/event20200406.html

【事前参加申込締切】2020年4月2日(木)正午

【お問い合せ】NIMS微細構造解析プラットフォーム事務局
E-mail:nmcp[at]nims.go.jp([at]を@に置き換えてください)