日時
2026年9月2日（水）13:00-16:30
場所
電気通信大学 東6号館101室
主催
電気通信大学ARIM事務局
共催
電気通信大学研究設備センター
定員
3名（事前登録制）
※申し込み多数の場合は抽選
参加費
無料
参加申し込み
E-mail: arim(at)cia.uec.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
申込締切：8/21（金）17:00
参加をご希望の方は、上記申込先メールアドレス宛に、
件名を「ショットキーSEM講習会申し込み」として、以下の事項を記載のうえお申し込みください。
【必須記載事項】
・所属機関（大学名・会社名等）
・学年・職名
・氏名
概要
本講習会は、ショットキー走査型電子顕微鏡（SEM）を初めて利用する学生、企業研究者、技術者を対象とした実技講習会です。
講習では、試料作製上の注意点、観察条件の設定、二次電子像（SE）による表面観察などについて、実機（㈱日立ハイテク SU5000）を用いて実習形式で学びます。また、電気通信大学マテリアルリサーチインフラ（ARIM）におけるSEMの利用事例について紹介し、研究への活用方法を解説します。
【プログラム】
13:00～13:15 HITACHIハイテクSU5000利用事例紹介
講師：電気通信大学 Ⅱ類 教授
研究設備センター 副センター長 菅 哲朗
13:30～16:30 ショットキーSEM実技講習
講師：電気通信大学 Ⅲ類 准教授
篠原 百合
・試料準備および安全上の注意
・装置の基本操作
・観察条件の設定
・二次電子像・反射電子像の取得
【対象】ショットキーSEM利用初心者（学生・企業研究者・技術者）
お問い合わせ
電気通信大学 ARIM事務局
担当者：三崎
東京都調布市調布ヶ丘1－5－1
E-mail: arim(at)cia.uec.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。
ホームページ
[URL]
https://www.arim.uec.ac.jp/
https://www.cia.uec.ac.jp/hp/archives/555
最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。
