ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
キーワード検索
文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます.
大分類:走査型プローブ顕微鏡
研究機関:千歳科学技術大学
研究分野:分子・物質合成
![]() |
走査型プローブ顕微鏡英語名:Scanning Probe Microscope, SPM.先端を尖らせた探針(プローブ)を物質の表面に近づけてプローブ直下の表面に刺激を与えた時の応答を測定し,プローブを動かした時の応答から,原子配列,電子構造,凹凸などの表面状態をナノメートルオーダーの空間分解能で2次元的に拡大観察することのできる顕微鏡. |
---|
英語名:Scanning Tunneling Microscope, STM.SPMの最初の形態で,鋭く尖った探針を導電性の物質の表面に近づけて極小空間を流れるトンネル電流を測定し,探針を走査して表面の原子レベルの電子状態,構造などを2次元的に拡大観察する顕微鏡.
英語名:Atomic Force Microscope, AFM.SPMの一種で,試料-探針間にはたらく力学的な相互作用力を検出して表面形状など表面特性像を得る顕微鏡.STMのように試料に対し導電性に関する制約がない.探針を装着したカンチレバーの動きをレーザで検出し,高い空間分解能での観察ができる.