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中分類検索結果

大分類：走査型プローブ顕微鏡
研究機関：千歳科学技術大学
研究分野：分子・物質合成

走査型プローブ顕微鏡

英語名：Scanning Probe Microscope, SPM．先端を尖らせた探針（プローブ）を物質の表面に近づけてプローブ直下の表面に刺激を与えた時の応答を測定し，プローブを動かした時の応答から，原子配列，電子構造，凹凸などの表面状態をナノメートルオーダーの空間分解能で2次元的に拡大観察することのできる顕微鏡．

該当する中分類件数:2件

走査型トンネル顕微鏡

英語名：Scanning Tunneling Microscope, STM．SPMの最初の形態で，鋭く尖った探針を導電性の物質の表面に近づけて極小空間を流れるトンネル電流を測定し，探針を走査して表面の原子レベルの電子状態，構造などを2次元的に拡大観察する顕微鏡．

原子間力顕微鏡

英語名：Atomic Force Microscope, AFM．SPMの一種で，試料－探針間にはたらく力学的な相互作用力を検出して表面形状など表面特性像を得る顕微鏡．STMのように試料に対し導電性に関する制約がない．探針を装着したカンチレバーの動きをレーザで検出し，高い空間分解能での観察ができる．