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大分類:特殊プローブ顕微鏡
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特殊プローブ顕微鏡

英語名:Advanced Probe Microscope.陽電子,イオン,紫外線,X線,シンクロトロン放射光などの特殊なビームをプローブ(探針)に用いて表面状態を拡大観察する顕微鏡.プローブの特性に応じた独特の測定・観察が可能となる.

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