バルク分析装置

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大分類：バルク分析装置

	バルク分析装置英語名：Equipment for Bulk Analysis．結晶・非晶質を含む物質内部の構造及び電子状態を，磁場，電場，電磁波，光，X線もしくはそれらの組み合わせを用いて分析する装置．測定のために試料に与える光などの刺激は内部に浸透することが求められる．

核磁気共鳴法(NMR): 英語名：Nuclear Magnetic Resonance, NMR．磁場中におかれた核スピンもしくは磁気双極子モーメントを持つ原子核を持つ物質による電磁波の共鳴吸収．共鳴周波数はその原子の化学結合状態などによって変化する（化学シフト）ため，元素分析及び化学状態分析に用いられる．強磁場ほど共鳴周波数が高くなり分解能が向上する．

電子スピン共鳴法(ESR): 英語名：Electron Spin Resonance, ESR．磁場中におかれた物質に含まれる不対電子の持つ電子スピンによる電磁波の共鳴吸収．この共鳴現象を利用して不対電子の検出を行い，不対電子の起源，周囲の電子状態，結合構造などを知ることができる．

X線回折法(XRD): 英語名：X-Ray Diffraction (XRD)．X線を物質に照射すると，物質中の原子・分子の配列に応じた回折現象を起こす．この回折パターンを分析することにより，原子・分子の配列パターンを求めることが可能である．格子定数や結晶構造の対称性の決定に用いられる．

電気・磁気特性測定: 英語名：Electric and Magnetic Property Measuring Instrument．抵抗率・誘電率等の電気特性や磁化率・透磁率等の磁気特性を測定するための装置類．材料特性評価のため，測定温度条件を変化させ，電気特性を磁場印加条件で行うなど測定環境制御機能の付加されることもある．

光学特性測定装置: 英語名：Optical Property Measuring Instrument．光の透過率・吸収率・反射率・屈折率等の光学的特性を測定するための装置類．光の波長を変えて測定することが多く，装置により測定可能な波長範囲が決まっている．温度・磁場などの測定環境制御機能の付加されることもある．

質量分析(MS): 英語名：Mass Spectroscopy (MS)．試料を真空中でイオン化して高電圧を印加すると，静電力によって試料は装置内を飛行する．飛行しているイオンを電界及び磁界により質量電荷比に応じて分離し，その量を検出することにより，元素及び組成の分析を行うことができる．

元素・組成分析: 英語名：Elementary Analysis / Composition Analysis．熱や電磁波（光，X線を含む）により原子中の電子を励起して発生する発光スペクトルの観測，電子線と物質との相互作用によるエネルギー損失等により元素・組成分析ができる．電子顕微鏡に元素分析機能が付加されていることも多い．