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大分類:バルク分析装置

バルク分析装置

英語名:Equipment for Bulk Analysis.結晶・非晶質を含む物質内部の構造及び電子状態を,磁場,電場,電磁波,光,X線もしくはそれらの組み合わせを用いて分析する装置.測定のために試料に与える光などの刺激は内部に浸透することが求められる.

該当する中分類件数:2件

X線回折法(XRD)

英語名:X-Ray Diffraction (XRD).X線を物質に照射すると,物質中の原子・分子の配列に応じた回折現象を起こす.この回折パターンを分析することにより,原子・分子の配列パターンを求めることが可能である.格子定数や結晶構造の対称性の決定に用いられる.

電気・磁気特性測定

英語名:Electric and Magnetic Property Measuring Instrument.抵抗率・誘電率等の電気特性や磁化率・透磁率等の磁気特性を測定するための装置類.材料特性評価のため,測定温度条件を変化させ,電気特性を磁場印加条件で行うなど測定環境制御機能の付加されることもある.