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大分類:バルク分析装置
研究機関:東京工業大学
研究分野:微細加工

バルク分析装置

英語名:Equipment for Bulk Analysis.結晶・非晶質を含む物質内部の構造及び電子状態を,磁場,電場,電磁波,光,X線もしくはそれらの組み合わせを用いて分析する装置.測定のために試料に与える光などの刺激は内部に浸透することが求められる.

該当する中分類件数:2件

X線回折法(XRD)

英語名:X-Ray Diffraction (XRD).X線を物質に照射すると,物質中の原子・分子の配列に応じた回折現象を起こす.この回折パターンを分析することにより,原子・分子の配列パターンを求めることが可能である.格子定数や結晶構造の対称性の決定に用いられる.

光学特性測定装置

英語名:Optical Property Measuring Instrument.光の透過率・吸収率・反射率・屈折率等の光学的特性を測定するための装置類.光の波長を変えて測定することが多く,装置により測定可能な波長範囲が決まっている.温度・磁場などの測定環境制御機能の付加されることもある.