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大分類:放射光計測装置
研究機関:大阪大学
研究分野:分子・物質合成

放射光計測装置

英語名:Measuring Instrument using Synchrotron Radiation.放射光を用いて物質の表面と内部の構造及び電子状態等を分析する装置.放射光は,高エネルギーの電子等の荷電粒子が磁場中でローレンツ力により曲がるときに放射する電磁波で,波長は赤外線からX線に及ぶ.放射光の特徴には,著しい指向性と高い光度があり,微量,微細領域,高エネルギー精度の分析などが可能である.

該当する中分類件数:1件

X線回折法(XRD)

英語名:X-Ray Diffraction (XRD).X線を物質に照射すると,物質中の原子・分子の配列に応じた回折現象を起こす.この回折パターンを分析することにより,原子・分子の配列パターンを求めることが可能である.格子定数や結晶構造の対称性の決定に用いられる.