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ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ！ 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます．
中分類検索結果
大分類：電気計測
研究機関：広島大学
研究分野：微細加工
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電気計測LSI・アナログデバイス・高周波デバイス・パワーデバイスなど各種デバイスに対する電気的特性評価装置，太陽電池の特性や環境適応性などの総合評価機器・装置類がある．また，電気機能実現にはチップ内電子回路・デバイスと外部のパッケージあるいは他のチップとワイヤで接続する必要があり，ワイヤボンダーが必要となる． |
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該当する中分類件数:1件
- 電子材料・デバイス評価
電子デバイス・回路の各種電気特性の測定，例えばパラメータ測定，高周波デバイス・パワーデバイス測定，オシロスコープなど．材料では薄膜の電気特性評価．また，電気特性測定のためのプローバも室温，極低温，真空，高耐圧など各種がある．
