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大分類:X 線回折

X 線回折

英語名:X-ray Diffraction, XRD.X線が結晶格子で回折を示す現象.この現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である.ここでは,単結晶X線構造解析装置,粉末・薄膜X線回折装置素指す.これ等によって,被測定物質の格子定数や結晶構造の対称性,結晶内部の原子配列などを求めることができる.

該当する中分類件数:1件

単結晶 X 線構造解析

単結晶試料にX線を照射し,回折されたX線の角度・強度から試料の構造を解析する.X線の散乱強度からは結晶構造因子の絶対値は求まるが,その位相については知ることができない.重原子法と呼ばれる方法や直接法(direct method)と呼ばれる方法を用いて位相を定める.