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大分類:質量分析
研究機関:東京大学
研究分野:微細構造解析

質量分析

英語名:Mass Spectroscopy (MS).試料を真空中でイオン化して高電圧を印加すると,静電力によって試料は装置内を飛行する.飛行しているイオンを電界及び磁界により質量電荷比に応じて分離し,その量を検出することにより,元素及び組成の分析を行う手法.ここでは,MALDI-MS,ESI-MS・CSI-MS・LC-MS,SIMSを指す.これ等の質量分析法により,生体高分子(タンパク質,ペプチド,糖鎖など)の分析,資料表面元素分析などができる.

該当する中分類件数:1件

SIMS

英語名:Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).固体試料の表面にビーム状のイオン(一次イオン)を照射し,そのイオンと試料表面の分子・原子レベルでの衝突によって発生するイオン(二次イオン)を質量分析計で検出することにより元素分析を行う表面計測法.イオンミリングと組み合わせることにより深さ方向分析も可能.