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大分類:その他材料評価

その他材料評価

被測定物質の下記の多様な物性を測定する装置群である.粒子径および粒径分布,高分子の数平均絶対分子量および分子集合体の見かけの分子量(会合数),試料の融点,ガラス転移温度,電位(ゼータ電位), CHNSO分析,化学状態の定量,太陽電池特性,高分子の力学的特性,多層膜厚,高分子の分子量および分子サイズ.

該当する中分類件数:1件

膜厚測定装置(エリプソメーター)

英語名:ellipsometer.エリプソメトリとは物質の表面で光が反射するときの偏光状態の変化(入射と反射)を観測し,そこから物質に関する情報を求める方法.分光エリプソメトリーは現在,薄膜の膜厚や光学定数を求める一般的な手法となっている.誘電体・半導体・金属・有機膜など,さまざまな物質解析に用いられている.