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中分類検索結果

大分類:その他材料評価
研究機関:物質・材料研究機構
研究分野:分子・物質合成

その他材料評価

被測定物質の下記の多様な物性を測定する装置群である.粒子径および粒径分布,高分子の数平均絶対分子量および分子集合体の見かけの分子量(会合数),試料の融点,ガラス転移温度,電位(ゼータ電位), CHNSO分析,化学状態の定量,太陽電池特性,高分子の力学的特性,多層膜厚,高分子の分子量および分子サイズ.

該当する中分類件数:2件

動的光散乱

英語名:Dynamic Light Scattering.液体中の粒子がブラウン運動により拡散する速度(拡散係数)を計測することで粒子径を測定できる.即ち,懸濁液中の粒子または分子のブラウン運動は,レーザー光を異なる強度で散乱させ,これらの強度の変化を解析することでブラウン運動の速度が得られ,これにストークス・アインシュタインの式を使用して粒径を求めることができる.主な用途は,液体に分散または溶解された粒子,エマルション,分子の特性評価である.簡便性からナノ粒子の測定に使用される.

ゼータ電位計,パーティクルサイズアナライザー

英語名:zeta potential measuring instrument.一般に,液体中の各粒子の表面電位を直接測定するのは困難なために,ゼータ電位を求めることになる.各粒子の表面電位やゼータ電位は,粒子の分散の安定性,また表面改質の効果を検討する上で重要なポイントである.また,ゼータ電位は粒子の周りの環境(液温,pH,添加剤,界面活性剤など)により変化するため,目的とする条件下において粒子がどのような状態にあるかを推察する上でも重要な情報である.ゼータ電位を指標に粒子の分散性や,壁面への粒子の吸着性をコントロールできる.