A-AE-114:エネルギー分散型XAFS装置 | ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内 / NanotechJapan YellowPages

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最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。

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研究設備詳細情報

事業名	ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID	A-AE-114
分類	放射光計測装置＞ X線吸収微細構造(XAFS)
設備名	エネルギー分散型XAFS装置 (Energy Dispersive XAFS Spectrometer)
地域	近畿
設置機関	日本原子力研究開発機構
研究分野	微細構造解析
担当部署または担当者	JAEA環境・構造物性研究グループ　松村大樹
仕様	設置場所：BL14B1（量子科学技術研究開発機構）計測可能な吸収端エネルギー：5～90 keV 特徴：二結晶分光器を用いた通常型X線吸収分光（XAFS）測定に加え、湾曲分光結晶を用いた分散型XAFS測定を行うことができる。通常型XAFS測定では、蛍光法において36素子半導体検出器を使用。試料温度は20-1073 K。ガス制御システムによる一酸化炭素・一酸化窒素を含んだ雰囲気制御や、四重極質量分析器によるガス成分分析も実施可能。研究例：触媒反応機構のその場実時間観察

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