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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID A-NM-043
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 走査型トンネル顕微鏡
走査型プローブ顕微鏡 > 環境制御走査型プローブ顕微鏡
設備名 極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡
(Scanning tunneling microscope with magnet)
地域 関東
設置機関 物質・材料研究機構
研究分野 微細構造解析
担当部署または担当者
仕様

極低温・高磁場・超高真空走査型トンネル顕微鏡装置

導電性単結晶表面の原子分解能観察およびトンネル分光測定が可能

測定温度: 0.4 K (連続50時間)、4.5 K (連続6日)、77 k(連続10日)

可変磁場: 0~16 T

超高真空: <10-8 Pa

試料準備用設備: アルゴンイオンスパッタ銃, ヒーター(~1200℃)、 電子ビーム蒸着装置(最大6蒸着源)、低温マニピュレータ、探針先端観察用電界イオン顕微鏡装置

A-NM-043

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