A-NU-095:高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡 | ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内 / NanotechJapan YellowPages

ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。

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研究設備詳細情報

事業名	ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID	A-NU-095
分類	透過電子顕微鏡＞収差補正透過電子顕微鏡
設備名	高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡 (Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope)
地域	中部
設置機関	名古屋大学
研究分野	微細構造解析
担当部署または担当者	超高圧電子顕微鏡施設
仕様	日本電子製JEM-ARM200（Cold）照射レンズ系に収差補正機能を搭載加速電圧： 200,80kV TEM, STEM, EDS, EELS Ultra-high resolution dedicated analytical STEM with illumination system aberration-corrected (accelerating voltages of 80, 120 and 200 kV) equipped with cold-FEG, 4th generation GIF Quantum, large area (100 mm2) SDD for EDX. The Dual EELS, Diffraction imaging and fast scan spectrum imaging options are available

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