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ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。

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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ！　研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名	ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID	A-UT-055
分類	透過電子顕微鏡＞収差補正透過電子顕微鏡形状・形態観察、分析＞透過電子顕微鏡(TEM)
設備名	超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子) (Ultrahigh Resolution Transmission Electron Microscope JEM-ARM200F Thermal FE (JEOL))
地域	関東
設置機関	東京大学
研究分野	微細構造解析
担当部署または担当者
仕様	□ 主な特長結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像（TEM）の分解能が0.11nmまで向上高圧、対物電流の変動を従来機の50%に抑制し、電気的安定度を大幅に向上鏡筒径を大きくし剛性を高めるとともに、架台の構造を最適化し、装置全体の機械的強度を従来機の約2倍に強化し、機械的安定度を向上熱および磁気シールドを標準装備。また、装置周囲の対流の変化による鏡筒表面の温度変化を防ぐために、鏡筒全体をカバーで被覆 □ 主な仕様分解能：透過顕微鏡像 0.11nm（加速電圧200kV）倍率：走査透過像 200～150,000,000倍透過顕微鏡像 50～2,000,000倍収差補正装置：結像系球面収差補正装置検出器：CCDカメラ×2

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