ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。
事業名 | ナノテクノロジープラットフォーム |
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機器ID | A-UT-065 |
分類 |
試料作製装置 > 集束イオンビーム(FIB) 膜加工・エッチング > 集束イオンビーム加工 |
設備名 | 透過型電子顕微鏡試料イオンビーム加工設備(FIB)JIB-4600F(日本電子) (Ion Beam Processing System for TEM Sample JIB-4600F(JEOL)) |
地域 | 関東 |
設置機関 | 東京大学 |
研究分野 | 微細構造解析 |
担当部署または担当者 | |
仕様 |
□ 特長
□ 主な仕様
SEM(電子ビーム)
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