S-CT-007:高分子計測装置群 | ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内 / NanotechJapan YellowPages

ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。

キーワード検索

研究設備詳細情報

事業名	ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID	S-CT-007
分類	物性測定＞粘弾性測定その他材料評価＞熱測定バルク分析装置＞電気・磁気特性測定物性測定＞力学特性測定装置その他材料評価＞高分子計測装置群
設備名	高分子計測装置群 (Material properties measuring devices)
地域	北海道
設置機関	千歳科学技術大学
研究分野	分子・物質合成
担当部署または担当者	カートハウス　オラフ
仕様	1. オートグラフ島津製作所社製 AGS-H 容量：100 N（10 kgf） 2. 熱重量測定装置　島津製作所社製 TGA-50 　温度範囲：常温~1000 °C 3. 示差走査熱量計　 Perkin Elmer社製 DSC 8500 　温度範囲：常温~750 °C

この設備に関連する成果事例はありません。

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。