文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-MS-130
分類 透過電子顕微鏡 > 電界放出型透過電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
表面分析装置 > その他表面分析
設備名 電界放出形透過電子顕微鏡
(Field emission transmission electron microscope)
地域 中部
設置機関 分子科学研究所
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 横山利彦 センター長
伊木志成子 特任専門員
上田正 技術職員
売市幹大 技術職員
仕様

JEOL JEM-2100F

高輝度で高い干渉性の電子線が得られるフィールドエミッション電子銃(FEG)を搭載した電子顕微鏡。
ナノスケールオーダーの超高分解能の像観察や分析が可能。
エネルギー分散型 X線分析装置(EDS)による微小部の元素分析、組成マップを測定が可能。
STEM機能により走査透過像測定が可能。

 

電子銃:フィールドエミッション

加速電圧:200kV

照射電流:0.23nm(粒子像)、0.1nm(格子像)

倍率:X2,000~X1,500,000

試料:3mmφ以内

 

S-MS-130

この設備に関するお問い合わせ先

本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。

設置機関Webサイト 設置機関Webサイト   この設備について問い合わせる この設備について問い合わせる(設置機関への問い合わせフォーム)