文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ! 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます。

研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-MS-131
分類 X 線回折 > 粉末・薄膜 X 線回折(XRD)
設備名 オペランド多目的X線回析
(Operando multi-purpose X-ray diffraction)
地域 中部
設置機関 分子科学研究所
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 横山利彦 機器センター長
小林玄器 准教授
藤原基靖 技術職員
仕様

Panalytical社製 Empyrean

X-ray Cu:45 kV、40 mA Mo:60kV、50mA
Optics Cu:BBHD、Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)、Lens
    Mo:Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)
Detector Prop(0D)、GaliPIX3D(1D,2D)、PIXcel3D 2x2(0D,1D,2D)
Stage Ref/Trans Spinner、3-axes(Chi-Phi-Z) Cradle +X-Y translation、Capillary Holder
Option DCS500(-180~500 ℃)[ref]、HTK1200N(RT~1200 ℃)[ref,trans]、ScatterX78[trans]
Software Data Collector、HighScorePlus、XRD 2D Scan、AMSS、EasySAXS、PDF Databases(PDF-4+)

 

試料にX線を照射し、回折・反射・散乱されたX線を観測することで、化合物の同定・定量・配向性、薄膜の膜厚・粗さ、粒径・空孔径分布などの情報が得られる。本装置では、各種ミラー・ステージ・オプションにより、様々な測定に対応可能である。

※初めて申請される方は、事前に担当者までお問い合わせ下さい。

 

S-MS-131

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