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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-MS-132
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
走査型プローブ顕微鏡 > 環境制御走査型プローブ顕微鏡
設備名 走査プローブ顕微鏡
(Scanning Probe Microscope)
地域 中部
設置機関 分子科学研究所
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 横山利彦 センター長
湊丈俊 主任研究員
上田正 技術職員
杉本敏樹 准教授
仕様

[ Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical ]
形状測定、機械特性測定、電気特性測定、ケルビンプローブ測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

[ Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical ]
電気化学測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

S-MS-132 S-MS-132

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