S-MS-132:走査プローブ顕微鏡 | ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内 / NanotechJapan YellowPages

ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。

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研究設備詳細情報

事業名	ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID	S-MS-132
分類	走査型プローブ顕微鏡＞原子間力顕微鏡走査型プローブ顕微鏡＞環境制御走査型プローブ顕微鏡
設備名	走査プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
地域	中部
設置機関	分子科学研究所
研究分野	分子・物質合成
担当部署または担当者	横山利彦センター長湊丈俊主任研究員上田正技術職員杉本敏樹准教授
仕様	[ Bruker Dimension XR Icon　NanoElectrical ] 形状測定、機械特性測定、電気特性測定、ケルビンプローブ測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。 [ Bruker Dimension XR Icon　NanoElectochemical ] 電気化学測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

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