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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NU-147
分類 表面分析装置 ＞ その他表面分析
表面分析装置 ＞ エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
設備名 蛍光X線分析装置
(EDXRF elemental analyzer)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 名古屋大学大学院工学研究科 亀山 達矢
仕様

X線を試料に照射した際に発生する蛍光X線エネルギーを測定することによって試料中に存在するNa～Ｕまでの元素を分析、定量することができます。

・エネルギー分散型　・最大出力：50W
・二次ターゲット：Cu、Mo、Al、RX-9、Si
・検出器：Silicon Drift Detector ・試料サイズ：φ20
S-NU-147

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