S-NU-147:蛍光X線分析装置 | ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内 / NanotechJapan YellowPages

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研究設備詳細情報

事業名	ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID	S-NU-147
分類	表面分析装置＞その他表面分析表面分析装置＞エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
設備名	蛍光X線分析装置 (EDXRF elemental analyzer)
地域	中部
設置機関	名古屋大学
研究分野	分子・物質合成
担当部署または担当者	名古屋大学大学院工学研究科亀山達矢
仕様	X線を試料に照射した際に発生する蛍光X線エネルギーを測定することによって試料中に存在するNa～Ｕまでの元素を分析、定量することができます。・エネルギー分散型　・最大出力：50W ・二次ターゲット：Cu、Mo、Al、RX-9、Si ・検出器：Silicon Drift Detector ・試料サイズ：φ20

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