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大分類表面分析装置  → 大分類一覧を表示
中分類オージェ電子分光(AES)  → 中分類一覧を表示
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8件中、1件目~8件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
表面化学実験ステーション 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keV特徴:金属および半導体表面での吸着・脱離、酸化・還元等の化学反応のダイ...
軟X線光電子分光装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keVエネルギー分解能:E/ΔE 104特徴:角度分解光電子分光(ARPES)測定も可能...
オージェ電子分光装置 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JAMP-9500F      二次電子分解能3nm(最小)    オージェ分析プローブ径8nm(最小)    反射...
超高真空STM・スピン偏極STM装置 北海道大学 微細構造解析 オミクロン社製STM/AFM, VT-STM    探針クリーニング機構    スピン検出可能探針作製機構    金属エピタキ...
走査型オージェ電子分光分析装置 物質・材料研究機構 微細構造解析 走査型オージェ電子分光分析装置PHI680 AESは、電子線照射により表面から放出されるオージェ電子の運動エネルギーと強度を測定する表面分析手法で...
走査型オージェ電子分光装置 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 ULVAC-PHI社製 PHI710試料に集束された電子線を照射し、オージェ過程を経て放出された電子の運動エネルギーを検出することで、元素組成および化学...
走査型オージェ電子分光顕微鏡・AES 北陸先端科学技術大学院大学 分子・物質合成 アルバックファイ社製 SAM670Xi 元素分析:原子番号3以上 走査電子ビーム径:15nm以下(加速電圧20kV、電流1nA) エネルギー分析:0-3200 eV ...
光電子分光装置(ESCA) 信州大学 分子・物質合成 日本電子株式会社(JEOL Ltd.)製 QuanteraⅡ 性能:最小ビーム径 7.5μm 以下検出器 32 チャンネルX線スキャン範囲 最大1.4mm ×1.4mm (連続可変)イ...