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12件中、1件目~12件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
表面化学実験ステーション 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keV特徴:金属および半導体表面での吸着・脱離、酸化・還元等の化学反応のダイ...
軟X線光電子分光装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL23SU(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:0.37~1.8 keVエネルギー分解能:E/ΔE 104特徴:角度分解光電子分光(ARPES)測定も可能...
極端紫外光光電子分光装置(EUPS) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研で基本原理を考案し装置化した、世界で唯一の表面分析装置分析法としての特長ーー物性を決める物理量が評価できる。 ①深さ分解能0.5nm...
X線光電子分光装置 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JPS-9200      標準X線源Mg/Alツインアノード    モノクロX線源(Al-Ka)    分解能0.65eV(モノ...
多機能走査型X線光電子分光分析装置(XPS)PHI 5000 VersaProbe(ULVAC-PHI) 東京大学 微細構造解析 PHI 5000 VersaProbe(アルバックファイ) □ 主な特長 走査型マイクロフォーカスX線源による微小領域分析(最小分析領域10μm) SXI(Scanning&nb...
XPS(X線光電子分光装置) 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 ULVAC-PHI社製 VersaProbe IIX線励起によって放出された光電子を分析することによって、試料表面の組成比および酸化状態を決定することが可能。Arイオ...
HAXPES 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 Omicron Nano Technology、ULVAC-PHI(光源)硬X線励起によって放出された光電子を分析することによって、表面元素を検出することが可能。この装置は集束Cr...
エックス線光電子分光分析(XPS)装置 産業技術総合研究所 微細加工 KRATOS ANALYTICAL / (株)島津製作所 X線源 Rowland 円直径 500mm モノクロメータ付Al Kα (1486.6 eV) 光電子分光器&nbs...
X線光電子分光装置・XPS 北陸先端科学技術大学院大学 分子・物質合成 島津/クレートス社製 AXIS-ULTRA DLD 測定可能元素  Li~U X線源  Mg/Al 特性X線、AlKαモノクロメータX線 最小プローブ 4...
X線光電子分光装置・XPS 北陸先端科学技術大学院大学 分子・物質合成 ファイソンズインスツルメンツ社製 S-probeTM 測定可能元素 Li~U 最小プローブ 100μm ...
X線光電子分光分析装置 九州大学 分子・物質合成 アルバック・ファイ社製  ESCA 5800最小分析領域: φ75µm分解能:0.48 eV特殊帯電中和機能付...
X線光電子分光 分子科学研究所 分子・物質合成 Omicron社製EA-125 ・ツインアノードX線源。汎用のX線 ・光電子分光器(Al, Mg-Kα線利用)を提供。 超高真空中で試料にX線を照射し、放出される...