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7件中、1件目~7件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS) 物質・材料研究機構 微細構造解析 アルバック・ファイ社製PHI TRIFT V nanoTOF固体試料の最表面に存在する成分(原子、分子)を調べるための装置。ppmオーダーの極微量成分を...
超微量元素計測システム(SIMS)NanoSIMS 50L(AMETEK) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 高感度な元素マッピング・同位体比測定が可能 高質量分解能 高空間分解能:<50nm 最大7種類の二次イオン像の同時検出が可能 ...
TOF-SIMS 物質・材料研究機構 蓄電池基盤 ION-TOF社製 TOF.SIMS5-AD-GCIBイオンスパッタによって発生した2次イオンを質量分析することで、非常に高感度な分析が可能。スタティックSIMSの条件では...
二次イオン質量分析機(SIMS) 広島大学 微細加工 アルバックファイ社製Cs,Oガン装備四重極型質量分析機、一次イオン最小加速エネルギー1kV...
動的二次イオン質量分析測定装置 九州大学 分子・物質合成 Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000四重極型一次イオンビームソース:酸素とアルゴン加速電圧:3 k - 15 kV測定面積:250 μ...
質量分析装置  九州大学 分子・物質合成 JEOL社製  JMS-T100CS   ESI/CSI兼用測定可能低温(-100℃)におけるイオン化...
MALDI-TOF質量分析装置  九州大学 分子・物質合成 BRUKER社製  Autoflex III リニアモードでのタンパクサンプルに対する1,000以上の分解能 100ppm以下の質量数精度 ペプチド質量数範囲に対す...