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大分類表面分析装置  → 大分類一覧を表示
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3件中、1件目~3件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
動的二次イオン質量分析測定装置 九州大学 分子・物質合成 Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000四重極型一次イオンビームソース:酸素とアルゴン加速電圧:3 k - 15 kV測定面積:250 μ...
質量分析装置  九州大学 分子・物質合成 JEOL社製  JMS-T100CS   ESI/CSI兼用測定可能低温(-100℃)におけるイオン化...
MALDI-TOF質量分析装置  九州大学 分子・物質合成 BRUKER社製  Autoflex III リニアモードでのタンパクサンプルに対する1,000以上の分解能 100ppm以下の質量数精度 ペプチド質量数範囲に対す...