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中分類エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)  → 中分類一覧を表示
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38件中、1件目~20件目を表示しています。

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写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM) 産業技術総合研究所 微細構造解析 高感度、高分解能の超伝導検出器を搭載した、蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡です。電子線で試料上を走査する際に放出される蛍光X線を測定する...
電界放射型走査型電子顕微鏡 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JSM-6500F      加速電圧:1kV~30kV    二次電子検出器装備    分析機能:EDS, EBSD...
200kV分析電子顕微鏡 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JEM-2010F    加速電圧:200kV    分析機能:EDS、EELS、GIF、STEM    電界放射銃搭載:...
超薄膜評価装置 北海道大学 微細構造解析 日立ハイテク製HD-2000    加速電圧:200kV    分析機能:EDS, EELS  ...
複合ビーム加工観察装置 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JIB-4600F/HKD    加速電圧:1~30kV    分析機能:EDS、EBSD、3D観察    像分解能:5nm(30kV)...
高分解能3次元構造評価装置 北海道大学 微細構造解析 日本FEI:Titan3    収差補正機能(STEM,TEM)    加速電圧:60kV~300kV    分析機能:EDS、ELLS    ...
実動環境対応物理分析電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-ARM200F照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200&120kV&80kV。TEM, STEM, EDS, 高感度EELS,&n...
原子識別電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-3100FEFインカラムオメガフィルターおよび、EDSを備えた、300kV分析電子顕微鏡。軽元素から重元素まで、幅広い元素に対して、高分解...
200kV電界放出形透過電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-2100F200kV電界放出形透過電子顕微鏡。TEM、STEM、EDS、EELS、電子線トモグラフィーが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ(Orius200D)装備...
微細組織三次元マルチスケール解析装置 物質・材料研究機構 微細構造解析 日立ハイテクサイエンス社製SMF-1000FIB-SEM-Ar-ionのトリプルガンを装備した電子顕微鏡。世界で唯一のFIB-SEM直交配置の装置:高い空間分解能・コントラ...
200kV電界放出形透過電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-2100F200kV電界放出形透過型電子顕微鏡。TEM、STEM、EDS、EELSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ(Orius200D)装備。  ...
200kV透過電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-2100200kV透過型電子顕微鏡。TEM、EDSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ(Orius200D)装備。2軸加熱ホルダー装備。...
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-ARM200F 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200&80kV&60kV。TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホログラフ...
透過型電子顕微鏡 大阪大学 微細構造解析 日立製FEG付透過型電子顕微鏡HF-2000 加速電圧:200kV 分析機能:EDS(ナノ分析、マッピング不可) ホルダー:標準(1軸)、2軸傾斜、加熱 画像記...
透過型電子顕微鏡 大阪大学 微細構造解析 日立製透過型電子顕微鏡H-800 加速電圧:200kV 分析機能:EDS ホルダー:標準(1軸)、2軸傾斜、加熱、冷却(液体He, 液体N2) 画像記録:CCD(...
高分解能透過電顕微鏡 東北大学 微細構造解析 収差補正装置付分析電子顕微鏡 (FEI Titan 80-300)    加速電圧:80-300kV    分析機能:EDS, EELS   &n...
低加速・高分解能走査電顕微鏡 東北大学 微細構造解析 電界放射型走査電子顕微鏡(Hitachi SU8000,S-5500)    加速電圧:0.1-30kV    分析機能:EDS(SU8000のみ)    STEM...
原子分解能・分析透過電子顕微鏡 東北大学 微細構造解析 ダブルコレクター付透過電子顕微鏡 (JEOL JEM-ARM200F)    加速電圧:200kV  電子銃:Cold-FEG    分析機能:EDS,...
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能&n...
透過/走査型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □主な特長電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト&ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM...

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