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大分類表面分析装置  → 大分類一覧を表示
中分類エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)  → 中分類一覧を表示
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5件中、1件目~5件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
電界放射型走査型電子顕微鏡 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JSM-6500F      加速電圧:1kV~30kV    二次電子検出器装備    分析機能:EDS, EBSD...
200kV分析電子顕微鏡 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JEM-2010F    加速電圧:200kV    分析機能:EDS、EELS、GIF、STEM    電界放射銃搭載:...
超薄膜評価装置 北海道大学 微細構造解析 日立ハイテク製HD-2000    加速電圧:200kV    分析機能:EDS, EELS  ...
複合ビーム加工観察装置 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JIB-4600F/HKD    加速電圧:1~30kV    分析機能:EDS、EBSD、3D観察    像分解能:5nm(30kV)...
高分解能3次元構造評価装置 北海道大学 微細構造解析 日本FEI:Titan3    収差補正機能(STEM,TEM)    加速電圧:60kV~300kV    分析機能:EDS、ELLS    ...