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8件中、1件目~8件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能&n...
走査透過型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □主な特長電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト&ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM...
クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト...
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧:100、150、200、250、300、350、400kV  電子線源:単結晶LaB6  焦点距離:3.1mm  球面収差係数:0.7mm  色収...
高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:80,100,120,160,200kV電子線源:熱電界放射型分解能:0.155nm(粒子像)試料最大傾斜角:±20°試料移動:モーター駆動排気方式:ス...
高分解能走査型分析電子顕微鏡(JSM-7800 Prime) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:~30kV  二次電子分解能:0.7nm(加速電圧 30 kV),3.0 nm(加速電圧 100 V)倍率:×10(WD40)~500,000プローブ電流:10-12~2×...
低真空走査型電子顕微鏡(JSM-6510LA) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:0.5~30kV  0.5~3.0kVは100Vステップ可変  3~30kVは1kVステップ可変二次電子分解能: 高真空モード:3.0nm(加速電圧30kV)...
低損傷走査型分析電子顕微鏡(JSM-7500FA) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 ジェントルビーム機能を搭載し加速電圧1kVで1.4nmの高分解能□ 主な仕様 二次電子像分解能:1.0nm(15kV)、1.4nm(1kV) 倍率:&...