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14件中、1件目~14件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
200kV分析電子顕微鏡 北海道大学 微細構造解析 日本電子製JEM-2010F    加速電圧:200kV    分析機能:EDS、EELS、GIF、STEM    電界放射銃搭載:...
超薄膜評価装置 北海道大学 微細構造解析 日立ハイテク製HD-2000    加速電圧:200kV    分析機能:EDS, EELS  ...
高分解能3次元構造評価装置 北海道大学 微細構造解析 日本FEI:Titan3    収差補正機能(STEM,TEM)    加速電圧:60kV~300kV    分析機能:EDS、ELLS    ...
実動環境対応物理分析電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-ARM200F照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200&120kV&80kV。TEM, STEM, EDS, 高感度EELS,&n...
原子識別電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-3100FEFインカラムオメガフィルターおよび、EDSを備えた、300kV分析電子顕微鏡。軽元素から重元素まで、幅広い元素に対して、高分解...
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 物質・材料研究機構 微細構造解析 日本電子社製JEM-ARM200F 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載。加速電圧200&80kV&60kV。TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホログラフ...
高分解能透過電顕微鏡 東北大学 微細構造解析 収差補正装置付分析電子顕微鏡 (FEI Titan 80-300)    加速電圧:80-300kV    分析機能:EDS, EELS   &n...
原子分解能・分析透過電子顕微鏡 東北大学 微細構造解析 ダブルコレクター付透過電子顕微鏡 (JEOL JEM-ARM200F)    加速電圧:200kV  電子銃:Cold-FEG    分析機能:EDS,...
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能&n...
透過/走査型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □主な特長電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト&ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM...
クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト...
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧:100、150、200、250、300、350、400kV  電子線源:単結晶LaB6  焦点距離:3.1mm  球面収差係数:0.7mm  色収...
透過型電子顕微鏡 奈良先端科学技術大学院大学 分子・物質合成 日本電子社製透過電子顕微鏡 型番:JEM-3100FEF 加速電圧:300kV 倍率:100~2,000,000倍 分析オプション:・走査像観察(STEM)・電子エネルギー損失...
ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡(Cs-corrected TEM) 信州大学 分子・物質合成 日本電子製  JEM-2100F 球面収差補正装置:  EM-Z07167T  2段つき 加速電圧:80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中) 分析機能...