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4件中、1件目~4件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM)JEM-ARM200F Cold FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能&n...
走査透過型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □主な特長電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト&ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM...
クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト...
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧:100、150、200、250、300、350、400kV  電子線源:単結晶LaB6  焦点距離:3.1mm  球面収差係数:0.7mm  色収...