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大分類放射光計測装置  → 大分類一覧を表示
中分類X線吸収微細構造(XAFS)  → 中分類一覧を表示
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5件中、1件目~5件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
XAFS測定装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL11XU(量子科学技術研究開発機構)光エネルギー:6~70 keV特徴:アンジュレータからの高輝度・高エネルギーX線を利用したXAFS測定が可...
エネルギー分散型XAFS装置 日本原子力研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL14B1(量子科学技術研究開発機構)計測可能な吸収端エネルギー:5~90 keV特徴:二結晶分光器を用いた通常型X線吸収分光(XAFS)測定に...
超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS) 産業技術総合研究所 微細構造解析 産総研自主開発:エネルギー分散超伝導検出器を搭載し、母材中の微量軽元素や重い元素のL, M線のX線吸収微細構造測定により、特定の微量元素の...
高輝度放射光薄膜・ナノ構造用回折計 物質・材料研究機構 微細構造解析 試料表面内、面直方向の3次元の原子配置構造の解析が可能。結晶性の薄膜機能材料の表面、界面のマイクロラフネス、薄膜の格子歪、電荷密度の深...
高温高圧プレス装置 量子科学技術研究開発機構 微細構造解析 設置場所:BL14B1(日本原子力研究開発機構)光エネルギー:白色光 または 5-90keV特徴:13GPa(13万気圧)、2500K程度までの圧力・温度状態下の試料...