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大分類形状・形態観察、分析  → 大分類一覧を表示
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4件中、1件目~4件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
集束イオンビーム/走査電子顕微鏡 京都大学 微細加工 エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)社製  NVision40PI高性能FIBとFE-SEMの複合装置SEM分解能  1nm@20kV、2.5nm @1kVFIB分解能  4nm@30k...
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 京都大学 微細加工 (株)日立ハイテクノロジーズ社製 SU8000 像分解能 1.0nm@15kV  1.4nm@1kV  取得可能像 二次電子像,組成像,透過像,透過暗視野像&nbs...
分析走査電子顕微鏡 京都大学 微細加工 (株)日立ハイテクノロジーズ社製 SU6600分解能 二次電子分解能:1.2nm反射電子分解能:3.0nm試料サイズ MAX Φ150mm x t40mm EDX...
卓上顕微鏡(SEM) 京都大学 微細加工 (株)日立ハイテクノロジーズ Miniscope TM3000倍率 15~30,000倍 試料最大寸法 Φ70mm  試料最大厚さ  50mm...