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大分類形状・形態観察、分析  → 大分類一覧を表示
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2件中、1件目~2件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
走査電子顕微鏡(SEM) 広島大学 微細加工 日立社製冷陰極電界放出型電子銃、最高分解能1.5nm...
EBSD解析装置 広島大学 微細加工 日本電子JSM-7100F   【技術代行専用】EBSD測定により 試料結晶面方位、結晶粒マッピング等の 結晶構造解析を行う。...