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ナノテクジャパンは、文部科学省「ナノテクノロジープラットフォーム」の一環として、全国の産学官の利用者に対して、
最先端研究施設及び研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。
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文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム共用設備利用案内サイトへようこそ！ 研究開発に必要な最先端の装置群を日本全国の研究機関から選べます．
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検索結果一覧
8件中、1件目～8件目を表示しています。
| 写真 | 設備名称 | 設置機関 | 研究分野 | 仕様 |
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超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な特長 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像（TEM）の分解能が0.11nmまで向上 高圧、対物電流の変動を従来機の50... |
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クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト... |
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有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM)JEM-1400(日本電子) | 東京大学 | 微細構造解析 | □ 主な仕様 分解能<0.38nm 試料を一度に4個装填できる試料ホルダ装備 オートフォーカス及び自動モンタージュ機能 （自動つなぎ合わせ... |
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原子直視型超高圧電子顕微鏡（JEM-ARM1250） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体加速電圧：400、600、800、1,000、1,250kV電子線源：単結晶LaB6焦点距離：8.2mm球面収差係数：1.4mm色収差係数：2.5mm分解能：0.1nm（粒子像）試料最大傾... |
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高分解能透過型分析電子顕微鏡（JEM-4010） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体 加速電圧：100、150、200、250、300、350、400kV 電子線源：単結晶LaB6 焦点距離：3.1mm 球面収差係数：0.7mm 色収... |
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高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体加速電圧：80,100,120,160,200kV電子線源：熱電界放射型分解能：0.155nm（粒子像）試料最大傾斜角：±20°試料移動：モーター駆動排気方式：ス... |
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ハイコントラスト透過型電子顕微鏡（JEM-2010HC） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体 加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV 電子線源 ： 単結晶LaB6 試料最大傾斜角 ： ±30° &nbs... |
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高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡（JEM-2000EX） | 東京大学 | 微細構造解析 | 本体加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV電子線源 ： 単結晶LaB6分解能 ： 0.1nm（格子像）試料最大傾斜角 ： ±10°... |
