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大分類形状・形態観察、分析  → 大分類一覧を表示
中分類透過電子顕微鏡(TEM)  → 中分類一覧を表示
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8件中、1件目~8件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)JEM-ARM200F Thermal FE(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な特長 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解能が0.11nmまで向上 高圧、対物電流の変動を従来機の50...
クライオ透過型電子顕微鏡(Cryo-TEM/STEM)JEM-2100F(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 ショットキー型FE電子銃装備 分解能<0.31nm EDS、EELS検出器装備 TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 極低温観察用クライオト...
有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM)JEM-1400(日本電子) 東京大学 微細構造解析 □ 主な仕様 分解能<0.38nm 試料を一度に4個装填できる試料ホルダ装備 オートフォーカス及び自動モンタージュ機能  (自動つなぎ合わせ...
原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:400、600、800、1,000、1,250kV電子線源:単結晶LaB6焦点距離:8.2mm球面収差係数:1.4mm色収差係数:2.5mm分解能:0.1nm(粒子像)試料最大傾...
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧:100、150、200、250、300、350、400kV  電子線源:単結晶LaB6  焦点距離:3.1mm  球面収差係数:0.7mm  色収...
高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧:80,100,120,160,200kV電子線源:熱電界放射型分解能:0.155nm(粒子像)試料最大傾斜角:±20°試料移動:モーター駆動排気方式:ス...
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC) 東京大学 微細構造解析 本体  加速電圧 : 80、100、120、160、200kV  電子線源 : 単結晶LaB6  試料最大傾斜角 : ±30° &nbs...
高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡(JEM-2000EX) 東京大学 微細構造解析 本体加速電圧 : 80、100、120、160、200kV電子線源 : 単結晶LaB6分解能 : 0.1nm(格子像)試料最大傾斜角 : ±10°...