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大分類形状・形態観察、分析  → 大分類一覧を表示
中分類分光(光、電子線、イオン線、プラズマ、磁気、X線)  → 中分類一覧を表示
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5件中、1件目~5件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
薄膜X線回折装置 大阪大学 分子・物質合成 株式会社リガクUltima IV   【特徴】 粉末試料、薄膜試料が測定可能な水平試料型X線回折装置です。 薄膜インプレーンスキャンによる面内構造...
テラヘルツ分光装置 大阪大学 分子・物質合成 日邦プレシジョン株式会社Pulse IRS 2000-os 【特徴】 1ps以下の高時間分解能1.3~130cm-1の波数範囲にて測定可能な赤外・テラヘルツ分光装置です...
フーリエ変換赤外分光光度計 大阪大学 分子・物質合成 日本分光株式会社6100FV型 MCT-600 【特徴】近赤外から遠赤外の波長領域で測定可能なフーリエ変換赤外分光光度計です。装置内を窒素ガスでパー...
紫外可視分光光度計 大阪大学 分子・物質合成 日本分光株式会社V-550 【特徴】液体試料、薄膜試料などを測定できる紫外可視分光光度計です。透過法のみ対応しています。【仕様】試料:10mmセル...
レーザーラマン顕微鏡 大阪大学 分子・物質合成 ナノフォトン株式会社 RAMANtouch VIS-NIR 【特徴】試料の分子構造や結晶性の評価が可能な高精度レーザーラマン顕微鏡です。【仕様】試料サイズ:...