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3件中、1件目~3件目を表示しています。

写真 設備名称 設置機関 研究分野 仕様
走査型近接場光学顕微分光システム(SNOM) 千歳科学技術大学 分子・物質合成 日本分光社製 NFS-230波長分解能: 0.5 nm以下測定波長範囲: 500~1,000 nm...
触針式表面形状測定器 千歳科学技術大学 分子・物質合成 Bruker社製  Dektak XT200 mmφ対応    測定再現性 1σ=4 Å以下...
表面物性測定装置群 千歳科学技術大学 分子・物質合成 1. 非接触光学式薄膜計測システム    Scientific Computing International 社製 Film Tek4000    膜厚測定範囲: 3...